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介電常數測定儀采用的技術和測試范圍介質損耗和介電常數是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。介電常數測定儀的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機控制儀器，測量核心采用了頻率數字鎖定、標準頻率測試點自動設定、諧振點自動搜索、Q值量程自動轉換、數值顯...

物理吸附分析儀研發設計的真空系統和控制系統分別是怎么樣的物理吸附分析儀特點：A.物理吸附分析儀真空系統1)的一體化集裝式管路系統,采用進口集裝管路,顯著減少管路連接點,大大降低漏氣率,提高極限真空度;2)模塊化結構設計,一體式集裝管路,需人工進行連接的部件少,有利于根據用戶需求按需配置及后期功能擴展,有利于維修更換;3)采用的雙級真空泵,噪音小,運行穩定,防油返功能,極限真空度高,可達4x10－2Pa(3x10－4Torr);B.物理吸附分析儀控制系統1)采用廣泛應用于工業控...

恒電位儀作業的環境條件及電氣條件恒電位儀是電化學測試儀器，可廣泛應用于電極過程動力學、化學電源、電鍍、_腐蝕、電化學分析及有機電化學合成等方面的研究。恒電位儀環境條件氣壓86~106kPa周圍空氣溫度-15℃~+45℃?？諝庀鄬穸?5%~90%恒電位儀電氣條件1.輸入電源:適用于單相220V和三相380V的市電。其他供電模式(如太陽能供電模式等)可以定制。2.電源電壓波動范圍:AC±20%DC土10%3.交流電源頻率波動范圍額定頻率:50Hz頻率波動范圍:47...

粒度粒形分析儀利用光學系統控制粒度粒形分析儀是全電腦控制，配置包括連接顯微鏡頭的數字工業相機和背光系統。未經稀釋的乳液經過位于成像裝置和光源之間的固定厚度的玻璃樣品池單元。通過在流動池中的分析,用戶可以進行粒徑測量，粒形分析及計數（顆粒數/毫升）。為了得到的顆粒計數，儀器內置特殊的泵系統，實現*的流速控制。粒度粒形分析儀由于焦點深度較大，在全成像范圍內利用光學系統控制，粒子成像鮮明，可測量通常的激光法粒度分布儀器無法測量的粒子形狀，對異物進行有效地分析。粒度粒形分析儀粒形參數...

真密度分析儀達到的測試效果真密度分析儀使用步驟簡介：1、按國標GB1427的規定對試樣進行取樣及稱量；在此過程中可先開啟真密度分析儀主機，利用準備時間進行預熱；2、對取好樣的樣品進行烘干；3、真密度分析儀將樣品倉取出，裝入樣品并采用去皮稱重法，利用萬位天平進行稱量，記錄樣品凈重；4、將裝好樣品的樣品倉小心的放入實驗倉，利用手柄及套筒關閉倉蓋；5、在觸摸屏上新建任務，輸入參數。由于開倉放入樣品會導致加熱系統部分熱量損失，此時可通過在面板上設置預熱時間，或等待預熱完畢后，再開始按...

關鍵詞：電聲法非水電導率多孔材料吸附表面活性劑DT-330/DT-700在近一期的《膠體與界面科學雜志》上公布了世界膠體科學家、美國分散技術公司（DT）CEOAndreiDukhin博士新的研究成果：用電導率測定多孔材料對非極性液體中的表面活性劑的吸附特性（見JournalofColloidａndInterfaceScience531(2018)523–532），宣告了一種新的多孔材料吸附測定方法的誕生！以來，多孔材料的吸附研究都局限于氣體吸附，而對液體吸附的研究，尤其是定量...

固體表面電位儀動態技術分析固體表面電位儀DelsaNanoC/SS是目前惟一的應用電泳光散射及動態光散射原理，同時提供顆粒Zeta電位分布、固體及薄膜液-固表面Zeta電位分布和納米粒度分布的分析儀。DelsaNnaoC/SS通過特別設計的固體平板樣品池，有效地為固體材料、纖維材料、薄膜材料等提供ZETA電位分析。為廣大的新材料研究、生產提供的、多用途的分析工具。使用動態（流動氣體）分析技術，可完成化學吸附（分散度、活性金屬面積、晶粒尺寸、表面酸性和脈沖化學吸附）和物理吸附（...

物理吸附分析儀消除測試過程變化物理吸附分析儀主要特點1.雙站微孔獨立測試，相同的試驗時間內通量加倍2.雙站各具獨立高精度壓力傳感器，更表征材料細微結構差異3.從預處理到分析的全過程全自動計算機程序處理，分析更。4.連續測試90小時以上，分析時間更長5.遠程控制，為標準化實驗室建設和特殊的有毒、有害以及輻射分析行業提供便利。6.可擴展至12氣體輸入接口，便于研究材料的吸脫附性能。7.與TCD、質譜、牛津變溫系統、量熱系統鏈接，實現程序升溫實驗、反應生成氣體成分分析、吸附熱研究等...