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在科學技術日新月異的今天,人類對自然界的認知不斷向更深層次拓展。從宏觀的天體運行到微觀的粒子世界,每一片未知的領域都吸引著科學家們去探索。在這一過程中,各種精密的分析儀器起到了至關重要的作用,而粒度分析儀便是其中的一員。它如同一雙銳利的眼睛,幫助我們洞察物質微觀結構的奧秘,為材料科學、化學、生物學、環境科學等多個領域的研究提供了強有力的支持。一、粒度:物質性質的微觀體現粒度,通常指的是顆粒的大小及其分布,是物質的一種基本物理屬性。在自然界和工業生產中,無論是土壤中的沙粒、空氣...
儀器應存放于干燥、清潔、空氣中不含有腐蝕性氣體的環境中。儀器使用時,計算機以及工作站電源都必須良好接地。本儀器在使用中發生故障或出現異常現象,可用隨機提供模擬電解池對儀器性能進行單獨檢驗:1、打開工作站電源;2、將三個電極夾中綠色護套夾(工作電極)夾在模擬電解池的右端(WE),黃色護套夾(參比電極)夾在中間(RE),紅色護套夾(輔助電極)則連接到左端(CE)。根據工作站的基本特性,在改變給定電位時,參比應始終等于給定,輸出電流則服從歐姆定律I=參比(給定)電位/R。如顯示數值...
表面zeta電位是簡單、方便而且的電泳遷移率測量儀器,其*的開放式樣品槽設計與頻譜漂移分析技術相結合,使其具有的分辨率,足以分辨等電點附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統zeta電位儀中固有的電滲誤差的影響,從而使測量變得而方便。表面zeta電位采用的是電泳光散射原理:帶電顆粒在外加電場作用下進行運動,電荷運動使散射光產生頻率漂移,采用頻譜漂移分析技術,從而可計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。表面zeta電位主要是測量分散體系中帶電顆粒的zeta電位,...
單通道恒電位儀/恒電流儀(電化學工作站)經濟實惠,易于使用,性價比高,是不帶任何選項的固定配置單元。SP-50是入門級性價比高的單通道恒電位/恒電流儀,針對一般電化學和腐蝕領域的應用。對于電化學領域的新研究人員,SP-50是教育培訓的理想儀器。電化學工作站使用時的注意事項:1、儀器盡量接地,要確保電源的3芯插頭中的中間插頭接地良好,如果室內布線不規范(如以零代地),則必須將接線板中的地線插腳(三孔插座中的中間插腳)連接到近的鋼制水管上。2、開機時先開計算機再開啟電化學儀主機電...
超聲粒度儀重要的就是用激光做光源,光為波長必定的單色光后,衍射和散射的光能的空間散布就只與粒徑有關。達到對顆粒群的衍射,形成更加豐富的內容和詳細的參數是我們更加的了解和解決這方便關于各激光粒度分析一顆粒級的多少決議著對應各特定角處取得的光能量的巨細,達到各特定角光能量在總光能量中的份額,應反映著各顆粒級的散布豐度。更加特別的簡單知識了解其根本的性能職責,更新的結果達到分析的能力基礎,更容易讓我們加快其腳步的變化。還有的就是超聲粒度儀選用濕法渙散技能,采取的方式就是在機械拌和使...
對陶瓷制造來講,原料是基礎,成形是條件,燒成是關鍵。各種陶瓷原料由于成因不同、地質條件不同,導致其化學成分、礦物組成、工藝性容易出現波動,從而影響產品的質量,因而原料的合理選擇和科學分析對陶瓷生產來說至關重要。陶瓷粉體的檢測在許多方面取決于初始粉體的功用,其物理化學性質將抉擇陶瓷材料結束的顯微結構和格外功用。粒度分布是粉體*的一種性質,也是決定粉體行為與屬性的重要物理性質。因此,在處理粉體時必須進行粒度分布的分析。常用的粒度分析儀有激光粒度分析儀、超聲粒度分析儀、消光法光學沉...
光學流變儀通過光學顯微鏡可直接觀察和研究在溫度和各種剪切模式控制下復雜流體的結構動力學。使用光學剪切臺,可以詳細的研究許多物理過程中復雜流體的微結構演變,還可以把微結構動力學和流變學數據進行對比,洞察復雜流體的流變學性質。通過顯微鏡捕獲得圖像也可以用于驗證計算機模擬的數字結果,以及來自其它直接測量的實驗數據。RheOptiCAD是針對熱-機械作用下的液體和固體樣品,高標準的復雜光學流變成像系統,適用于所有光學/共聚焦倒置顯微鏡反射模式。該裝置具有3個電動軸,裝有顯微鏡載玻片吸...
阻抗分析儀能在阻抗范圍和寬頻率范圍進行測量,它利用物體具有不同的導電作用,在物體表面加一固定的低電平電流時,通過阻抗計算出物體的各種器件、設備參數和性能優劣。阻抗分析儀的原理:阻抗分析儀可以測量和評定要與電路匹配.對于壓電陶瓷片,可以直接從導納圓圖和對數坐標判斷器件優劣,如果陶瓷片內部出現分層,或者出現裂紋,對數曲線將出現多峰,導納圓圖上出現多個寄生小圓.對于變幅桿的設計、加工和裝配,是否合理或有缺陷,直接在導圓圖上明顯的可以看到.對于超聲波焊接機的生產加工,利用導納圓的結果...
顆粒球形度分析儀是一臺的簡便的粉體和顆粒表征的自動粒徑粒形分析儀,可以分析范圍在0.2mm-3000mm之間的粉體顆粒粒徑;也可以分析范圍在0.8-300mm的懸浮液和乳濁液;還可以利用背光表面分析技術對1μm以上混合物料的色彩進行分析,并推斷混合物料的成分比例。符合ISO-13322-1靜態圖像法粒度分析儀規范符合ISO9276-6;7;8,CEMarking,EN5022,EN61000-3-2,EN61000-3-3,IEC61000-4-3,IEC61000-4-4,...
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