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zeta電位儀是一臺高性能雙角度顆粒粒度及分子大小分析儀，采用動態光散射法，結合“NIBS”光學器件，可增強對聚集體的檢測，還可測量小尺寸或稀釋樣品，以及極低濃度或高濃度樣品。ZSE還包含了電泳光散射法表征顆粒、分子的zeta電位儀，以及靜態光散射法表征分子量。與使用90度散射光學器件的系統相比，該系統采用非侵入式背散射光學器件(NIBS)，使性能得到顯著提升?？捎糜跍y定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位)，也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反...

孔隙率是粉體中總空隙所占有的比率，是影響多孔介質內流體傳輸性能的重要參數。總空隙包括粉體內孔隙和粉體間空隙。粉體的充填體積（V）為粉體的真體積（Vt）、粉體內孔隙體積（V內）、粉體間空隙體積（V間）之和?？紫堵逝c多孔介質固體顆粒的形狀、結構和排列有關。在常見的非生物多孔介質中，鞍形填料和玻璃纖維達到83%~93%；煤、混凝土、石灰石和白云石等可低至2%~4%，地下砂巖大多為12%~34%，土壤為43%~54%，磚為12%~34%，皮革為56%~59%，均屬中等數值；動物的腎、...

顆粒的物理性質測試對于很多行業都具有重要意義，顆粒的粒徑分布與球形度、長徑比等外形分布數據都是經常需要用到的物理參數。圖像粒度儀工業級雙向遠心鏡頭以及強大的分析軟件，可快速對待測顆粒進行粒形分析，廣泛應用于質量控制、研發部門以及實驗室，可替換篩分分析。圖像粒度儀系統包括光學顯微鏡、數字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。它是將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物。它的基本工作流程是通過數字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝下來并傳輸到電腦中，通過專門的...

超聲粒度儀是基于超聲法原理的儀器，主要應用于在原濃分散體系中表征粒徑分布，利用超聲波在含有顆粒的連續相中傳播時，聲與顆粒的相互作用產生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應來測量顆粒粒度及濃度。無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。應用領域：主要應用于原濃分散體系中表征粒徑分布、Zeta電位、流變學參數、固體含量、CMP漿料，乳液、陶瓷漿料、電池漿料、水泥、藥物乳劑等。特點：1、測量準確性高。礦漿中超聲衰減的改變是固體顆粒共同作用的成果，可以對超聲衰減選用直接測量方法，而非查表...

粒形分析儀采用積木式的設計，在需要的時候用戶可以隨時配備其它更先進的部件，使它的性能就立刻提升。比如可以配備用于形態分析的視頻攝像系統、配備濕法分散系統、干法分散系統和粒度分析專家軟件等。粒形分析儀結合了粒度儀和顆粒形貌分析儀的核心作用之外，可選擇進行干、濕法測定，甚至能夠區分混合物比例等等。具有成像清晰、分析速度快、操作簡單、結果準確可靠等特點。是人造金剛石、碳化硅磨料、等領域的技術研究、應用研究和質量控制提供里一種高精度的分析手段。分析項目包括粒度和粒形兩大類，粒度分析項...

圖像粒度儀一般是由激光器、富氏透鏡、光電接收器陣列、信號轉換與傳輸系統、樣品分散系統、數據處理系等組成。根據激光散射原理,顆粒大小不同,散射光能量隨射角度的分布也不同,此種分布稱為散射譜。激光粒度就是通過檢測顆粒群的散射譜反演顆粒大小及其分布的。激光器發出的激光束,經濾波、擴束、準直后變質束平行光,在該平行光束沒有照射到顆粒的情況下,光束經過富氏透鏡后將其匯聚到焦點上。當通過某種特定的方式把顆粒均勻地放置到平行光束路徑中時,激光束經過顆粒時將發生衍射或散射現象,一部分光將與光...

固體表面電位是指由于帶電微粒吸引分散系中帶相反電荷的粒子，離顆粒表面近的離子被強烈束縛著，而那些距離較遠的離子形成一個松散的電子云的內外電位差。又叫電動電位或電動電勢，是指剪切面的電位。是一個表征分散體系穩定性的重要指標。由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號離子，這些反號離子在兩相界面呈擴散狀態分布而形成擴散雙電層。根據雙電層理論可將雙電層分為兩部分。當分散粒子在外電場的作用下，穩定層與擴散層發生相對移動時的滑動面即是剪切面，該處對遠離界面的流體中的某點的電位稱為固體表面...

超聲粒度儀是一種連續礦漿流在線粒度檢測儀器，是磨礦工藝流程控制中*的在線粒度測量儀器。具有測量多個粒級和濃度的能力。超聲粒度儀原理：超聲波發生端發出一定頻率和強度的超聲波，經過測試區域，到達信號接收端。當顆粒通過測試區域時，由于不同大小的顆粒對聲波的吸收程度不同，在接收端上得到的聲波的衰減程度也就不一樣，根據顆粒大小同超聲波強度衰減之間的關系，得到顆粒的粒度分布，同時還可測得體系的固含量。產品特點：1、測量準確性高：礦漿中超聲衰減的變化是固體顆粒共同作用的結果，本儀表對超聲衰...