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測(cè)量方法:目前bai測(cè)量Zeta電位du的方法主要有電泳法、zhi電滲法、流動(dòng)電位法dao以及超聲波法zhuan,其中shu以電泳法應(yīng)用廣。Zeta電位的重要意義在于它的數(shù)值與膠態(tài)分散的穩(wěn)定性相關(guān)。Zeta電位是對(duì)顆粒之間相互排斥或吸引力的強(qiáng)度的度量。分子或分散粒子越小，Zeta電位（正或負(fù)）越高，體系越穩(wěn)定，即溶解或分散可以抵抗聚集。反之，Zeta電位（正或負(fù)）越低，越傾向于凝結(jié)或凝聚，即吸引力超過(guò)了排斥力，分散被破壞而發(fā)生凝結(jié)或凝聚。Zeta電位與體系穩(wěn)定性之間的大致關(guān)系...

Zeta電位分析儀是一種創(chuàng)新的zeta電位分析儀，專門(mén)用于表征納米顆粒懸浮液。它基于重新審視的現(xiàn)代版激光多普勒電泳（LDE）技術(shù)，提供*且的測(cè)量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析儀的補(bǔ)充，用于研究膠體溶液的穩(wěn)定性和性質(zhì)。新產(chǎn)品由新型的光學(xué)系統(tǒng)、電泳池、數(shù)據(jù)采樣和數(shù)據(jù)處理等部分組成，實(shí)現(xiàn)了由PC個(gè)人微機(jī)對(duì)采樣模塊的控制及后期數(shù)據(jù)處理的一體化設(shè)計(jì)，與其它同類產(chǎn)品相比，它具有更多的優(yōu)異性能。Zeta電位儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測(cè)量...

納米粒度儀是用物理的方法測(cè)試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，采用數(shù)字相關(guān)器的納米激光粒度儀，其采用高速數(shù)字相關(guān)器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡(jiǎn)便、測(cè)試快捷、高分辨、高重復(fù)及測(cè)試準(zhǔn)確等特點(diǎn)，是納米顆粒粒度測(cè)試的產(chǎn)品。原理先進(jìn)的測(cè)試原理：本儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小。具有原理先進(jìn)、精度*的特點(diǎn)，從而保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性和有效性。高靈敏度與信噪比：本儀器的探測(cè)器采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管（PMT），對(duì)光子信號(hào)具...

原理光是橫電磁波，是一種在各個(gè)方向上振動(dòng)的射線。其電場(chǎng)矢量E與磁場(chǎng)矢量H相互垂直，且與光波傳播方向垂直。由于產(chǎn)生感光作用的主要是電場(chǎng)矢量，一般就將電場(chǎng)矢量作為光波的振動(dòng)矢量。光波電場(chǎng)矢量與傳播方向所組成的平面稱為光波的振動(dòng)面。若此振動(dòng)面不隨時(shí)間變化，這束光就稱為平面偏振光，其振動(dòng)面即稱為偏振面。平面偏振光可分解為振幅、頻率相同，旋轉(zhuǎn)方向相反的兩圓偏振光。其中電矢量以順時(shí)針?lè)较蛐D(zhuǎn)的稱為右旋圓偏振光，其中以逆時(shí)針?lè)较蛐D(zhuǎn)的稱為左旋圓偏振光。兩束振幅、頻率相同，旋轉(zhuǎn)方向相反的偏振...

納米粒度儀是用物理的方法測(cè)試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，采用數(shù)字相關(guān)器的納米激光粒度儀，其采用高速數(shù)字相關(guān)器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡(jiǎn)便、測(cè)試快捷、高分辨、高重復(fù)及測(cè)試準(zhǔn)確等特點(diǎn)。原理先進(jìn)的測(cè)試原理：本儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小。具有原理先進(jìn)、精度*的特點(diǎn)，從而保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性和有效性。高靈敏度與信噪比：本儀器的探測(cè)器采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管（PMT），對(duì)光子信號(hào)具有*的靈敏度和信噪比，從而...

粒度分布的定義所謂粒度分布，就是粉體樣品中各種大小的顆粒占顆粒總數(shù)的比例。當(dāng)樣品中所有顆粒的真密度相同時(shí)，顆粒的重量分布和體積分布一致。在沒(méi)有特別說(shuō)明時(shí)，儀器給出的粒度分布一般指重量或體積分布。1.公式法表達(dá)粒度分布：Rosin-Rammler公式：W(x)=1-exp[-(x/De)^N]式中，De是與x50(中位徑)成正比的常數(shù)，N則決定粒度分布的范圍，N越大，力度分布范圍越窄，表示樣品中顆粒分布的均勻性越好。2.中位徑：中位徑記作x50,表示樣品中小于它和大于它的顆粒各...

阻抗分析儀是一種電子測(cè)試儀器。它可以測(cè)量復(fù)數(shù)電阻隨測(cè)試頻率的變化。阻抗是表征電子元器件，電子電路和元件材料的一個(gè)很重要的參數(shù)。另外，阻抗分析可以還被應(yīng)用到介電材料，比如生物組織，食品和地質(zhì)樣本中。原理阻抗分析儀是一種能夠測(cè)量復(fù)數(shù)電阻抗隨頻率變化的儀器。它的原理是通過(guò)相敏檢測(cè)，同時(shí)測(cè)量器件在掃頻測(cè)試過(guò)程中的電流和電壓。阻抗分析儀的主要參數(shù)分別是頻率范圍，阻抗范圍，阻抗幅值的精度和相位精度。更進(jìn)一步的還包括測(cè)量速度，以及在測(cè)試中施加電壓或者電流偏置的功能。阻抗分析儀測(cè)得的阻抗包含...

Zeta電位儀94年推出的新一代測(cè)試儀器的改進(jìn)型，新產(chǎn)品由新型的光學(xué)系統(tǒng)、電泳池、數(shù)據(jù)采樣和數(shù)據(jù)處理等部分組成，實(shí)現(xiàn)了由PC個(gè)人微機(jī)對(duì)采樣模塊的控制及后期數(shù)據(jù)處理的一體化設(shè)計(jì)，與其它同類產(chǎn)品相比，它具有更多的優(yōu)異性能。產(chǎn)品應(yīng)用：1.半導(dǎo)體研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。2.醫(yī)藥和食品行業(yè)乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。3.陶瓷和顏料...